中兴AI芯片检测效率提升60倍 技术突破落地

中兴通讯研发的AI芯片空洞智能检测系统，将传统人工3分钟检测缩短至3秒，效率提升60倍。该系统融合多模态大模型，99%识别灵敏度能精准检测微米级缺陷，适配多种场景且已落地生产线，未来将拓展至更多微观检测领域并提供标准化解决方案。