雪迪龙携手中科院推进半导体检测国产化

雪迪龙与中科院上海应用物理研究所联合主办半导体痕量成分检测技术交流会，并共同成立飞行时间二次离子质谱上海应用中心。雪迪龙推出基于CRDS技术的痕量气体分析仪及TOF-SIMS质谱仪，子公司英国KORE分享TOF-SIMS技术在半导体领域的应用。公司强调与科研机构合作推动国产质谱技术发展，助力半导体检测自主可控。