AI双核赋能！广立微YAD平台破解芯片良率难题，效率提升立竿见影

广立微推出YAD良率感知大数据诊断分析平台，该平台通过整合DFT工具诊断报告、制造过程参数、测试数据等多维度信息，结合AI算法实现全链路良率诊断分析，显著提升半导体企业良率优化效率。YAD已在实际案例中验证价值，可将分析周期从数周缩短至数小时，并提高根因定位准确率。平台支持可视化交互与自动化流程，未来计划深化数据智能与制造场景融合。