电科芯片AI视觉技术突破高温监测瓶颈，剑指智能制造新蓝海

电科芯片装备开发团队参加2025 VisionChina上海机器视觉展，重点展示了针对高温晶体生长环境的视觉监测技术。该技术旨在解决1600℃极端环境下图像失真、动态追踪困难等难题，计划通过引入AI算法和视觉大模型提升晶体状态实时感知能力。展会交流为团队积累了行业经验，强化了在晶体生长控制领域的技术储备。