【专利】长电科技“引线框架结构及其封装结构”专利公布;利扬芯片“一种用于芯片老化测试的数据采集装置”获授权
2025-02-19
利扬芯片近日获得了一项名为“一种用于芯片老化测试的数据采集装置”的专利授权,该专利能够准确检测老化测试后的芯片是否存在异常。此专利有助于提升芯片测试的精度和可靠性。
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