【经营】牵头起草第三代半导体测试方法联盟标准

2026年8月18日，华峰测控作为国内领先的半导体测试设备厂商，牵头起草的《SiC MOSFET非钳位电感开关(UIS)测试方法》联盟标准已完成委员会草案，并面向联盟成员发起投票。

该标准规定了SiC MOSFET器件UIS的测试原理、流程及数据处理方法，覆盖了从芯片测试到实验室研发的多个阶段。此举体现了公司在第三代半导体测试领域的技术话语权和行业影响力。