【经营】胜科纳米2篇论文入选全球失效分析权威盛会ISTFA 2026
2026-10-09
胜科纳米2篇学术论文入选ISTFA 2026(第52届国际测试与失效分析研讨会),该大会是全球微电子失效分析领域最权威的年度行业盛会,于2026年10月4日至8日在美国德克萨斯州召开。
入选论文分别涉及铝焊盘电偶腐蚀失效机理研究及栅氧化层完整性失效快速识别方法,研究成果为提升晶圆质量良率和失效分析准确性提供了明确标准。
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入选论文分别涉及铝焊盘电偶腐蚀失效机理研究及栅氧化层完整性失效快速识别方法,研究成果为提升晶圆质量良率和失效分析准确性提供了明确标准。
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